膜厚测量光谱仪

使用范围

适用于各种有机薄膜、无机薄膜、涂层等薄膜测量。

设备参数

测量薄膜厚度范围：从1nm到30um不等，具体范围取决于样品

光源：氘灯、高功率卤素灯

测试波长范围：190nm～1100nm

最大测试样品尺寸：最大可支持300x300mm样品

设备特点

非接触式、非破坏性测量：保护样品，无需破坏性测试

快速测量：连续快速检测，每次测量结果实时显示

易于使用：直观的软件界面和简便的操作流程